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  2013年10月23—26日，由(you)中(zhong)華人民共和(he)國科學(xue)技術部批(pi)準、中(zhong)國分析測(ce)試(shi)協會(hui)(hui)主(zhu)辦的“第十五屆北京(jing)分析測(ce)試(shi)學(xue)術報告會(hui)(hui)暨展覽(lan)會(hui)(hui)（BCEIA2013）”將在北京(jing)展覽(lan)館(guan)召開(kai)。

  BCEIA由(you)中華人(ren)民共和國(guo)科(ke)學(xue)技術(shu)部批準(zhun)，中國(guo)分析測試(shi)(shi)協會(hui)主辦，從1985年開始(shi)，每兩年舉辦一(yi)次，26年來(lai)已(yi)經連續成(cheng)功舉辦了十(shi)四(si)屆。BCEIA已(yi)成(cheng)為(wei)國(guo)內最具影響力的(de)專業(ye)性分析測試(shi)(shi)儀器展覽會(hui)之一(yi)，并(bing)在在國(guo)外享有較高(gao)的(de)聲譽。本(ben)屆BCEIA2013學(xue)術(shu)報(bao)告會(hui)會(hui)議主題(ti)為(wei)“分析科(ke)學(xue)創(chuang)新未來(lai)”，由(you)大會(hui)報(bao)告、分會(hui)報(bao)告、應用技術(shu)報(bao)告會(hui)共同組成(cheng)。展會(hui)同期(qi)還將進行BCEIA獲獎產品頒獎儀式等一(yi)系列活動。

  此次分(fen)析測試(shi)領域的專業盛會，我司將(jiang)以“科(ke)技創造(zao)美好生活”為展示主題，分(fen)設(she)綜述、有(you)機分(fen)析、無(wu)機分(fen)析、近(jin)紅外四大展區，另設(she)活動專區。屆時我司將(jiang)集中展示臺(tai)式GC-MS  便攜GC-MS、 LC-MSMS、ICP-OES（BCEIA2013金(jin)獎評選產品）、近(jin)紅外系列(lie)（便攜、臺(tai)式）等實驗室(shi)分(fen)析領域的最新技術及(ji)產品。

歡迎(ying)各位蒞臨我們的展臺：12號館(guan)12079-12081、12090-12092